Диагностические стенды
Автоматизированная система диагностики "Тест-Д"
Ремонт электронных устройств
  
 
  Описание    Новости    Документация и ПО    Ремонт    Информация    Вопрос-ответ    Цены
   
 


 

Информация

АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ СИСТЕМА ДИАГНОСТИКИ "ТЕСТ-Д"

 
Автоматизированная система диагностики «ТЕСТ-Д» предназначена для диагностики и ремонта промышленных электронных устройств. Система представляет собой управляемый от персонального компьютера диагностический стенд, к которому при помощи специальных переходных адаптеров можно подключить различные электронные платы и модули. АСД «Тест-Д» может использоваться на предприятиях как диагностический стенд при производстве электронной аппаратуры, так и в качестве сервисного оборудования для ремонта различных электронных уст-ройств.

Система диагностики «ТЕСТ-Д» позволяет определить работоспособность подключенной электронной платы, а в случае ее неисправности установить причину отказа. Обладая всеми положительными свойствами сер-висных приборов (надежность, малые габариты, простота обслуживания), система диагностики является гибкой и универсальной. Связь системы диагностики с персональным компьютером осуществляется через порт USB. Про-граммное обеспечение системы диагностики , включающее базовое ПО и редакторы подготовки тестов, имеет удобный русскоязычный интерфейс и работает в среде WINDOWS98/2000/XP/NT/VISTA.
 
Система диагностики ТЕСТ-Д3 USB В состав системы диагностики «Тест-Д» входят:
• Функциональный тестер
• Внутрисхемный аналоговый тестер “VI-зонд”.
• Внутрисхемный тестер цифровых микро-схем ”ВТЦМ-32”.
• Тестер микропроцессорных устройств (ло-гический анализатор) ”ЛАД-03”.
• Программаторы микросхем PROM и EPROM.
• Блок питания объекта контроля с напряже-ниями
+/-5V, +/-12V ,+/-15V , +/-24V.
Система диагностики "ТЕСТ-Д3 USB"
 
Комплекс приборов, входящих в состав системы, реализует методы функционального, сигнатурного и внутрисхемного тестирования, что позволяет автоматизировать диагностику различных промышленных электрон-ных устройств.
 
Функциональное тестирование

При функциональном тестировании система диагностики проверяет работоспособность устройства, эмулируя его работу в составе действующего оборудования. Тестирование выполняется при помощи функциональ-ного тестера и программы «Диагностический тест».
 
Контактирование с проверяемым блоком, как правило, осуществляется через краевой разъем с помощью специализированного устройства - адаптера подключения. Адаптеры обеспечивают подачу питания на  объект контроля и его связь с функциональным тестером. В некоторых случаях адаптеры осуществляют преобразование сигналов как воздействующих на объект, так и принимаемых с объекта.
 

Окно программы «Диагностический тест»

Окно программы «Диагностический тест»


Программа «Диагностический тест» позволяет тестировать электронные устройства на режимах близких или даже более жестких, чем работа в составе действующего оборудования. Алгоритм тестирования, задается в тестовом файле, где определяются комбинации воздействующих сигналов, их временная последовательность и сравнение полученных ответных сигналов  с эталоном. Программа позволяет наглядно и компактно описать достаточно сложные алгоритмы тестирования практически любого электронного устройства, включая ОЗУ и ПЗУ. Методика создания тестов  проста, понятна пользователю и подробно описана в поставляемой документации. Для редактирования и создания новых тестов в состав программного обеспечения входит удобный графический редак-тор. Использование циклического режима тестирования предоставляет  возможность определения “плавающих” дефектов и неисправностей, связанных с прогревом устройства.
 
Внутрисхемное тестирование

Метод внутрисхемного тестирования, по определению, означает тестирование отдельных компонентов на электронной плате. Данный метод используется для локализации неисправного элемента после обнаружения де-фекта узла (платы) при помощи функционального тестирования. В состав системы диагностики входят устройства, реализующие методы аналогового и цифрового внутрисхемного тестирования - аналоговый внутрисхемный тестер VI-зонд и внутрисхемный тестер цифровых микросхем ВТЦМ-32.
 Аналоговый внутрисхемный тестер VI-зонд работает в  режимах: анализатора вольтамперных характе-ристик и осциллографического пробника.
Вольт-амперные характеристики (ВАХ) двухполюсников радиокомпонентов разного типа или схемного набора элементов печатной платы имеют четко выраженные и легко распознаваемые формы. Анализ вольт-амперных характеристик позволяет выявить неисправный элемент, подключенный к контролируемой точке устройства.
 

Диаграмма работы  операционного усилителя

Диаграмма работы  операционного усилителя


В то же время проверка входных и выходных импедансов интегральных элементов не может выявить нарушений их внутренней структуры. Неисправности, вызванные подобными причинами, выявляются только проверкой функционирования. Для проверки функционирования аналоговых элементов, основу которых составляют операционные усилители, применим осциллографический пробник, позволяющий получить осциллограмму выходного сигнала усилителя при воздействии на его вход периодического сигнала.
Сигнатуры и временные диаграммы, полученные в режимах анализатора ВАХ и пробника соответственно, можно записать в эталонный файл. Таким образом, имеется возможность тестирования электронных устройств путем сравнения полученных и эталонных диаграмм.
Аналоговый тестер VI-Зонд, реализующий метод аналогового поконтактного внутрисхемного тестирования, позволяет диагностировать электронные устройства с любой плотностью монтажа, а также компоненты с любыми типами корпусов, включая БИС, ПЛИС.
Внутрисхемный тестер цифровых микросхем ВТЦМ-32 позволяет, не выпаивая цифровые микросхемы из платы, проверить правильность их функционирования. Во время проверки на контакты  тестируемой микросхемы через специальную клипсу подаются импульсы, способные установить заданный уровень сигнала независимо от логического состояния компонента, связанного с проверяемым контактом. Величина импульса тока, подаваемого на контакт микросхемы, является достаточной для принудительной установки выхода логического элемента в за-данное состояние и в то же время не выводит его из строя, так как время воздействия ограничено.
 

Мнемосхема объекта контроля

Мнемосхема объекта контроля


Тестер ВТЦМ-32 имеет 32 цифровых канала, по которым происходит подача воздействий на проверяемую микросхему и приём реакций на эти воздействия. В начале теста осуществляется проверка исходных логических состояний выводов микросхемы и наличие на них переключений (сигналов от внутреннего генератора тестируемого устройства), наличие выводов, подключенных к цепям питания, и выводов, соединённых между собой перемычками. Полученный результат выводится  на дисплей в виде мнемосхемы объекта контроля.
По результату проверки исходных логических состояний программа автоматически изменяет заданный в тестовом файле алгоритм тестирования, производит функциональный тест микросхемы в соответствии с измененным алгоритмом и выводит результаты тестирования на экран монитора в виде временных диаграмм и таблицы данных. При помощи тестера имеется возможность выполнять проверку различных цифровых микросхем, включая микросхемы ОЗУ и ПЗУ. Следует подчеркнуть, что данный прибор имеет возможность считать информацию с микросхем ППЗУ, впаянных в платы. В комплект поставки тестера входит библиотека тестов на большинство микросхем различных серий и справочник их аналогов. В состав программного обеспечения тестера входит редактор тестов. С его помощью пользователь имеет возможность самостоятельно изменять алгоритм тестирования микросхем и производить разработку и отладку новых тестовых программ.

Логический анализ

Наиболее эффективным методом тестирования и ремонта микропроцессорных устройств является логический анализ. Используя различные режимы и комбинации событий для запуска логического анализатора, пользова-тель может получить на экране дисплея временные диаграммы алгоритма работы устройства, сравнить их с этало-ном и, таким образом, определить неисправность. 
 

Логический анализатор ЛАД-03

Логический анализатор ЛАД-03


 В состав диагностической системы «ТЕСТ-Д» входит тестер микропроцессорных устройств «Логи-ческий анализатор ЛАД-03», обладающий свойствами классического логического анализатора и дополнитель-ными сервисными возможностями, направленными на облегчение диагностики и ремонта микропроцессорных устройств.
Основной отличительной особенностью прибора ЛАД-03 является возможность тестирования электрон-ных  устройств в режиме реального времени однократно и в циклическом режиме, путем сравнения алгоритма работы проверяемого устройства с эталоном, записанным в тестовом файле. Результат сравнения, представленный в виде данных, адресов, команд, свойственных исследуемому объекту, способен указать пользователю на неисправность или подсказать дальнейшее направление ее поиска.
Логический анализатор ЛАД-03 имеет 40 входных  каналов. Вместе с тем программное обеспечение анализатора позволяет сохранить в одном тестовом файле любое число временных диаграмм сигналов. Использование синхронного запуска анализатора и объекта контроля, предоставляет возможность последовательно снимать данные в одноканальном  (режим «Зонд») и многоканальном режиме, а затем сводить их на одном экране, получая целостную картину работы узла из множества отдельных диаграмм. Представление информации в виде слов данных позволяет пользователю легко и быстро ее обработать. Одноканальный, последовательный съем данных (метод pin by pin) делает возможным тестировать электронные платы с любой плотностью монтажа и компоненты с любыми типами корпусов.
Логический анализатор ЛАД-05 , поставки которого начнутся с 2008 года, имеет максимальную частоту дискретизации 400 МГц и настраиваемые входные пороги.
Система диагностики успешно эксплуатируется на различных предприятиях России и стран СНГ более 8 лет. Аппаратная часть и программное обеспечение системы постоянно совершенствуется с целью увеличения функциональных возможностей и удобства пользования.
С системой диагностики поставляются аппаратно-программные комплекты (набор адаптеров и библиотека тестов) для ремонта различных электронных промышленных устройств: систем ЧПУ и программируемых контроллеров 2С42, 2У22, 2Р22, 2Р32, НЦ31, МС2109, МС2101, НЦ80, ХШ9-11, СNC600, FMS3000, «Синумерик, МС1201, ХШ9-11, «Микродат», электроприводов «Размер 2М» всех моделей, ЭПБ2, «КЕМРОН», «КЕМТОК», «КЕМТОР», «КЕМРОС», «КЕМЕК», «APENA», «MEZOMATIС», ЭТУ2-2,  ЭПУ1-2, ЭПУ2-2, BOSCH TR40/170, фотоимпульсных датчиков ВЕ178, ЛИР, ROD, электронных АТС и других устройств.
 Функциональные возможности системы позволяют использовать ее в качестве диагностического стенда при производстве электронной аппаратуры. В этом случае кроме описанных выше приборов в состав системы мо-гут входить измерительные устройства и другое стандартное диагностическое оборудование. Разработчиком и производителем системы диагностики является российское предприятие, с системой поставляется полный комплект технической документации, что позволяет адаптировать ее под конкретную задачу пользователя.
 
С. А. Сергеев
E-mail: trailer@cncinfo.ru
Тел. (4812) 69-09-10
http://www.stanok.cncinfo.ru 


назад
 
  Запрос на прайс-лист    Оперативная техническая поддержка: тел. 8-910-7880910, email: test-d-service@yandex.ru
 
ГлавнаяОтправить сообщениеКарта сайта