Диагностические стенды
Автоматизированная система диагностики "Тест-Д"
Ремонт электронных устройств
  
 
  Описание    Новости    Документация и ПО    Ремонт    Информация    Вопрос-ответ    Цены
   
 


 

Новости

10 сентября 2007
 
 
Автоматизированная система диагностики «ТЕСТ-Д1 USB» с управлением от порта USB персонального компьютера.
Новые функциональные возможности системы.
19 мая 2007
 
Автоматизированная система диагностики «ТЕСТ-Д3 USB» с управлением от порта USB персонального компьютера. Разработано новое программное обеспечение под WINDOWS.
 
05 июня 2006
В состав внутрисхемного тестера «ВТ-02»  входят . внутрисхемный аналоговый тестер VI-зонд и цифровой тестер ВТЦМ-32. Подключается к порту USB компьютера. Программное обеспечение выполнено под WINDOWS. Поставляется библиотека тестов для  различных микросхем, а также редактор тестов.
06 февраля 2005
Автоматизированная система диагностики «ТЕСТ-Д3» включает:
-  функциональный тестер, на базекоторого потавляютсятесты на более чем 40 моделей систем ЧПУ, контроллеров, электроприводов, АТС;
-  внутрисхемный аналоговый тестер VI-зонд, который выполняет функции анализатора ВАХ, осциллографического пробника и осциллографа; 
-  цифровой тестер ВТЦМ-32, предназначенный для тестированияцифровых микросхем не выпаивая их из платы.
 
14 февраля 2004 Разработан логический анализатор «ЛАД-03», предназначенный для ремонта сложных микропроцессорных устройств. В комплекте поставляются тесты и адаптеры для ремонта .процессорных плат систем
09 августа 2003
 
 
В состав АСД «ТЕСТД2»входит анализатор вольт-амперных характеристик «VI-зонд», предназначенный для аналогового внутрисхемного тестирования.
Имеет отдельное и встроенное в блок диагностики исполнение.
03 марта 2002
 
 
Переработана аппаратная часть комплекса. Разработано новое программное обеспечение, что позволило расширить функциональные возможности системы. Для разработчиков тестов поставляется редактор тестов под  WINDOWS.
05 января 1999
 
В состав программного обеспечения  введены специализированные программы для ремонта модулей ОЗУ и ПЗУ. Разработаны тесты для рдиагностики и ремонтаплат процессоров систем ЧПУ.
 
14 мая 1997
 
 
Новая модель диагностического комплекса. Модернизирована аппаратная часть. Число входов-выходов увеличено до 192. Новые функциональные возможности программного обеспечения.
22 января 1995
 
 
Предназначен для ремонта цифровых электронных плат. Управляется от персонального компьютера. Имеет 128 входов-выходов уровня ТТЛ. Программное обеспечение позволяет создать тест и подключить посредством адаптера электронную плату с различной конфигурацией входов-выходов.


 
  Запрос на прайс-лист    Оперативная техническая поддержка: тел. 8-910-7880910, email: test-d-service@yandex.ru
 
ГлавнаяОтправить сообщениеКарта сайта