Диагностические стенды
Автоматизированная система диагностики "Тест-Д"
Ремонт электронных устройств
  
 
  Описание    Новости    Документация и ПО    Ремонт    Информация    Вопрос-ответ    Цены
   
 


 

Новости

20 ноября 2008 С 24 по 27 ноября 2008 года в г. Москве в КВЦ «Сокольники» будут проходить «МЕЖДУНАРОДНЫЕ ПРОМЫШЛЕННЫЕ ВЫСТАВКИ», в рамках которых на стенде ООО ПКФ «Магес» и ООО «Станкомаркет»(№ А1012 в павильоне 4) будет демонстрироваться система диагностики "ТЕСТ-Д USB". На выставке будет демонстрироваться сетевая версия программы "Диагностический тест". 
10 сентября 2008 Cеминар на тему "Модернизация систем диагностики ТЕСТ-Д и ТДК до уровня ТЕСТ-Д USB" состоится 24 и 25 сентября 2008 года на территории ООО ПКФ Магес (г. Смоленск Энергетический проед, 1 -307). Заявки просьба отправлять по адресу service@cncinfo.ru
27 июня 2008
27 мая 2008

 

20 марта 2008
Доработана программа diatest.exe в части снятия осциллограм.
Доработаны тесты на привод ЭТУ3601Д для плат П1 и П2 с использованием встроенного осциллографа..
07 февраля 2008

Режим циклического контроля выходных данных задается, если согласно алгоритму тестирования требуется дождаться реакции тестируемого устройства на какое-то воздействие. Это реализуется с помощью выходного слова ‘O’, имеющего циклический тип. Данная функция существовала, но время контроля было ограничено 65635 тактами. Теперь время ожидания может задаваться как в микросекундах (миллисекундах, секундах), так и числом циклов сравнения. Максимальное время ожидания 1800 секунд. Максимальное количество циклов ожидания – 2 миллиона. Возможно задать бесконечное ожидание (как в G-функции) при задании числа циклов равное нулю. После окончания теста реальное время ожидания события или  количество циклов ожидания выводится в таблице результатов теста и в окне данных выходного слова.

15 января 2008 При выполнении диагностического теста в любом такте временной диаграммы имеется возможность съема и записи осциллограмм в выбранных пользователем контрольных точках тестируемой платы. Съем осциллограмм выполняется при помощи VI-зонда, который входит в состав блока диагностики «Тест Д3 USB» или внутрисхемного тестера «ВТ-02».
В программе диагностического теста вводятся дополнительные V-слова, в параметрах которых задаются такт запуска осциллографа, масштаб развертки и амплитуды измеряемого сигнала. При тестировании платы ремонтник визуально сравнивает снятые и эталонные диаграммы, которые были ранее получены с исправного устройства. Съем осциллограмм может выполняться как однократно, так и в непрерывном режиме.


 
  Запрос на прайс-лист    Оперативная техническая поддержка: тел. 8-910-7880910, email: test-d-service@yandex.ru
 
ГлавнаяОтправить сообщениеКарта сайта