| Диагностические стенды |
| Автоматизированная система диагностики "Тест-Д" |
| Ремонт электронных устройств |
 |
|
|
|
|
 ОписаниеНовостиДокументация и ПОРемонтИнформацияВопрос-ответЦены |
|
|
1. Состав и технические параметры
Программируемый контроллер:
- Число каналов канала ввода-вывода .……….…...… 190 (95) - Уровни сигналов .............……………….........…........ТТЛ, КМОП. - Максимальный уровень логической единицы ……....15V. - Максимальный уровень логического нуля в режиме вывода: …………………………………….…...0,4V. в режиме ввода: …………………………………….....….0,8 V .
- Максимальный ток при уровне логического нуля
в режиме вывода: ……………….....……………….…....
40 mA.
в режиме ввода: ………………………………….…..... ... 0,8 mA. Зонд логический ( IN -зонд) - уровень логической единицы ……………………….....от 2,0 V до 15 V - уровень логического нуля …………………………......от -15 V до 1,0 V - Входное сопротивление………………………………....20 кОм Зонд генератор ( OUT -зонд) - уровень логической единицы не менее…………..……2,4 V - уровень логического нуля не более…………….….…..0,8 V - Максимальный выходной ток …………………………..200 мА
2. Подключение объекта контроля
При функциональном и сигнатурном тестировании контактирование с проверяемым блоком как правило осуществляется через краевой разъем с помощью специализированного устройства - адаптера подключения. Адаптеры обеспечивают подачу питания на объект контроля и его связь с функциональным тестером. В некоторых случаях адаптеры осуществляют преобразование сигналов как воздействующих на объект, так и принимаемых с объекта.
Таким образом, не меняя программного обеспечения, пользователь может самостоятельно значительно расширить возможности системы диагностики, изготовив необходимый ему специальный адаптер. Для определения соответствия контактов выходных разъемов адаптера и каналов ввода-вывода пользователем составляется файл описания конфигурации адаптера, путем заполнения стандартной таблицы.
3. Программное обеспечение
3.1 Функциональное тестирование
При функциональном тестировании система диагностики проверяет работоспособность устройства, эмулируя его работу в составе действующего оборудования. Метод функционального тестирования реализуется при помощи программы «Диагностический тест» (diatest.exe).
Задаваемые алгоритмы тестирования позволяют диагностировать электронные устройства на режимах близких или даже более жестких, чем работа в составе действующего оборудования.
Алгоритм тестирования, задается в тестовом файле в виде временных диаграмм сигналов управления и «Слов данных», в которых компактно представлена информация, передаваемая по многоразрядным магистралям. Алгоритм определяет комбинации воздействующих сигналов, их временную последовательность и сравнение полученных ответных сигналов с эталоном.
Временная диаграмма алгоритма тестирования
Структура теста представляет собой временную диаграмму, на которой «Слова данных» синхронизируются сигналами управления, что позволяет наглядно и компактно описать достаточно сложные алгоритмы тестирования практически любого электронного устройства. Структура проста, понятна пользователю и достаточно подробно описана в поставляемой документации. Для редактирования и создания новых тестов в состав программного обеспечения входят графический редактор
EditTest
.
exe
.
Следует отметить следующие достоинства программы
Следует отметить следующие достоинства программы
- задание временной диаграммы длиной до 128 тактов в сочетании с циклическими повторами позволяет получить последовательности сигналов, состоящие из тысяч тактов, и в тоже время наглядно представить алгоритм тестирования на экране монитора;
- наличие управляемых виртуальных одноканальных и многоканальных генераторов дает возможность задать в тесте различные последовательности импульсов и временные задержки без применения дополнительных сервисных приборов; - возможность формирования пользователем файла описания контактов адаптера для подключения тестируемой платы позволяет использовать один адаптер для диагностики различных типов плат с одинаковыми разъемами; - создание в одном тестовом файле нескольких тестов позволяет проводить тестирование устройства в различных режимах или осуществлять последовательные проверки логических узлов; - использование циклического режима тестирования предоставляет возможность определения “плавающих” дефектов и неисправностей, связанных с прогревом устройства; - возможность наблюдать с помощью логического зонда ( IN -зонд) прохождение сигналов на выводах элементов синхронно с временными диаграммами алгоритма тестирования; - наличие дополняемого комментария к тесту (записная книжка), позволяющего не только описать алгоритм теста, но и оперативно отразить возникшие по результатам теста замечания; - программа осуществляет диагностику различных типов оперативных запоминающих устройств. Для статических ОЗУ с подпиткой имеется возможность сохранить содержимое ОЗУ в файле, записать данные из файла в ОЗУ, проверить ОЗУ на сохранность информации; - программа предоставляет полный набор средств для ремонта плат, содержащих микросхемы ПЗУ: сравнение данных ПЗУ с эталоном и поиск неисправной микросхемы памяти, запись содержимого микросхем ПЗУ в файл, просмотр, редактирование данных ППЗУ. - программа работает с программаторами PROM и EPROM и поддерживает ряд алгоритмов программирования, в том числе уже не выпускаемых микросхем К573РФ1, К573РФ2, К556РТ4, К556РТ5, К155РЕ3 и других; - при наличии в составе системы диагностики аналогового тестера «VI-зонд» имеется возможность произвести съем осциллограммы в контролируемой точке проверяемой платы с последующим сохранением ее в тестовом файле. Запуск VI-зонда осуществляется с любого заданного такта временной диаграммы диагностического теста. Это обеспечивает синхронизацию съема и возможность сравнения осциллограмм, снятых с исправной и неисправной платы. Для пользователей, самостоятельно разрабатывающих тестовые программы, предлагается универсальный модуль сопряжения УМС-95 , предназначенный для создания на его базе адаптеров для различных электронных устройств и редактор тестов EditTest . exe .
Особенностью модуля УМС-95 является возможность с помощью сменной переходной платы задать необходимые связи каналов системы диагностики и объекта контроля. Плата представляет собой макетное поле, на которое возможна установка пользователем различных элементов, обеспечивающих согласование сигналов. Переход к тестированию нового объекта контроля осуществляется заменой переходной платы и соединительных жгутов на другие, соответствующие новому объекту.
3.2
Цифровой сигнатурный анализ
Метод цифрового сигнатурного анализа реализует программа «Сигнатурный тест» . Для сигнатурного тестирования используются те же каналы ввода-вывода, что и для функционального тестирования.
Метод цифрового сигнатурного анализа основан на применении т. н. "сигнатур" - определённых цифровых последовательностей на выходах устройства при подаче на вход схемы фиксированных последовательностей цифрового кода.
В АСД «Тест-Д» данный метод реализует программа «Сигнатурный тест». Принцип работы сигнатурного теста следующий: на входы тестируемой платы подается определенная комбинация логических уровней и считывается состояние тестируемого выхода. Затем комбинация сигналов на входах меняется и снова считывается состояние тестируемого выхода. Этот процесс повторяется 2 в 12 степени раз. В результате получается последовательность длиной 4096 бит, для которой рассчитывается 32-разрядная контрольная сумма. Эта сумма затем сравнивается с эталонным значением, полученным на заведомо исправной плате. Алгоритм расчета гарантирует обнаружение одинарных, двойных, пакетных и всех нечетных ошибок в последовательности. Контроль сигнатур можно осуществлять как на выходах платы, так и в контрольных точках внутри нее. Благодаря этому, программа позволяет локализовать неисправность с точностью до конкретного элемента. Программа применяется в основном для тестирования цифровых плат с однородной структурой, хотя бы-вает эффективна для ремонта даже микропроцессорных устройств. Программа позволяет производить полную проверку пассивных элементов, таких как переходные платы, кабели, жгуты и т. п., на наличие обрывов, коротких замыканий и ошибок при распайке разъемов. Создание тестового файла заключается в заполнении файла шаблона, где задаются входные и выходные контакты разъемов тестируемого устройства. Имеется возможность задать входные сигналы для предустановки элементов с памятью, расположенных на тестируемой плате.
4.3. Диагностика электронных устройств в статическом режиме
Программа «Тест контактов» позволяет тестировать электронные платы в статическом и псевдодинамическом режимах. Программа работает в режимах Тестера и Редактора.
Наличие режима Редактора позволяет пользователю быстро и наглядно создать на дисплее мнемосхему разъемов любого адаптера и сразу приступить к тестированию электронной платы. После запуска программы в режиме Тестера и выбора типа адаптера, на экране монитора появляется окно с мнемосхемой разъемов соответствующего адаптера, к которым подключается диагностируемая плата.
Мнемосхема разъемов адаптера УЧПУ 2С42
Далее пользователь имеет возможность устанавливать логические сигналы, подавать циклическую последовательность сигналов на входные контакты проверяемой платы и считывать информацию с выходных контактов платы однократно и циклически. Контроль сигналов осуществляется визуально на экране дисплея или с помощью осциллографа.
Используя ЗОНД - генератор (OUT-ZOND) и зонд логический (IN-ZOND) пользователь имеет возможность контроллировать прохождение сигнала между двумя точками тестируемой платы. ЗОНД - генератор (OUT-ZOND), реализующий метод цифрового внутрисхемного тестирования, задает циклическую последовательность импульсов и позволяет на время прохождения импульса установить заданный уровень на входе логических микросхем. Величина импульса тока, подаваемого на контакт микросхемы, является достаточной для принудительной установки выхода логического элемента в заданное состояние и в то же время не выводит его из строя.
3.4 Режим съема осциллограмм
В диагностическом тесте имеется возможность произвести съем осциллограммы в контролируемой точке проверяемой платы с последующим сохранением в тестовом файле. Данная опция доступна при совместной работе функционального тестера и аналогового тестера VI-зонд, который входит в состав АСД «ТЕСТ-Д3» или внутрисхемного тестера «ВТ-02». Запуск VI-зонда осуществляется с любого заданного такта временной диаграммы диагностического теста. Это обеспечивает синхронизацию съема и возможность сравнения осциллограмм, снятых с исправной и неисправной платы. Для определения параметров снимаемых осциллограмм в тесте задаются такт съема, длительность развертки и максимальная амплитуда сигнала.
В конце отработки теста на дисплее появится окно, на котором будут отображены эталонная и отснятая осциллограмма. В случае совпадения они накладываются друг на друга. Съем осциллограмм может выполняться как однократно, так и в циклическом режиме. 
Окно вывода осциллограмм
|
